(0)
Sie haben keine Artikel im Korb.
Menu
Suchen
Wunschliste (0)
Warenkorb (0)
Close
Menu

Ihre Suche nach vl%2525253DDiamond US ergab 537 Treffer

«12...111213141516171819...23»
Cover-Bild zu Jonker, P. P.: Morphological Image Processing: Architecture and VLSI design

Jonker, P. P.: Morphological Image Processing: Arc

Kartonierter Einband (Kt) | 1993
CHF 188.00
Cover-Bild zu Colinge, J. -P.: Silicon-on-insulator Technology

Colinge, J. -P.: Silicon-on-insulator Technology

Fester Einband | 1997
CHF 188.00
Cover-Bild zu Colinge, J. -P.: Silicon-on-insulator Technology

Colinge, J. -P.: Silicon-on-insulator Technology

Fester Einband | 1991
CHF 134.00
Cover-Bild zu Sung-Mo (Steve) Kang: Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Sung-Mo (Steve) Kang: Hot-Carrier Reliability of M

Fester Einband | 1993
CHF 236.00
Cover-Bild zu Minato, Shin-ichi: Binary Decision Diagrams and Applications for VLSI CAD

Minato, Shin-ichi: Binary Decision Diagrams and Ap

Fester Einband | 1995
CHF 188.00
Cover-Bild zu Zukowski, C. A.: The Bounding Approach to VLSI Circuit Simulation

Zukowski, C. A.: The Bounding Approach to VLSI Cir

Fester Einband | 1986
CHF 188.00
Cover-Bild zu Wand, Mitchell (Hrsg.): VLISP A Verified Implementation of Scheme

Wand, Mitchell (Hrsg.): VLISP A Verified Implement

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 188.00
Cover-Bild zu Thornton, Mitchell Aaron: Spectral Techniques in VLSI CAD

Thornton, Mitchell Aaron: Spectral Techniques in V

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 188.00
Cover-Bild zu Osipov, Andrei: Prolate Spheroidal Wave Functions of Order Zero

Osipov, Andrei: Prolate Spheroidal Wave Functions

Fester Einband | 2013
CHF 134.00
Cover-Bild zu Kunzmann, Arno (Hrsg.): Reuse Techniques for VLSI Design

Kunzmann, Arno (Hrsg.): Reuse Techniques for VLSI

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 134.00
Cover-Bild zu Agrawal, Vishwani: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

Agrawal, Vishwani: Essentials of Electronic Testin

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 168.00
Cover-Bild zu Takefuji, Yoshiyasu (Hrsg.): Analog VLSI Neural Networks

Takefuji, Yoshiyasu (Hrsg.): Analog VLSI Neural Ne

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 188.00
Cover-Bild zu Supin, Alexander Ya.: The Sensory Physiology of Aquatic Mammals

Supin, Alexander Ya.: The Sensory Physiology of Aq

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 188.00
Cover-Bild zu Robert, Michel (Hrsg.): SOC Design Methodologies

Robert, Michel (Hrsg.): SOC Design Methodologies

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 236.00
Cover-Bild zu Getov, Vladimir (Hrsg.): Performance Analysis and Grid Computing

Getov, Vladimir (Hrsg.): Performance Analysis and

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 188.00
Cover-Bild zu Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.: Cross-Talk Noise Immune VLSI Design Using Regular Layout Fabrics

Sangiovanni-Vincentelli, Alberto L.: Cross-Talk No

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 134.00
Cover-Bild zu Swartzlander, E. (Hrsg.): VLSI Signal Processing Technology

Swartzlander, E. (Hrsg.): VLSI Signal Processing T

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 134.00
Cover-Bild zu Kresin, Vladimir Z. (Hrsg.): Pair Correlations in Many-Fermion Systems

Kresin, Vladimir Z. (Hrsg.): Pair Correlations in

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 188.00
Cover-Bild zu Baulieu, L. (Hrsg.): Low-Dimensional Applications of Quantum Field Theory

Baulieu, L. (Hrsg.): Low-Dimensional Applications

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 236.00
Cover-Bild zu Vliert, Evert Van De (Hrsg.): Role Transitions

Vliert, Evert Van De (Hrsg.): Role Transitions

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 146.00
Cover-Bild zu Wolf, Stuart A.: Fundamentals of Superconductivity

Wolf, Stuart A.: Fundamentals of Superconductivity

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 134.00
Cover-Bild zu Moore, W. R. (Hrsg.): VLSI for Neural Networks and Artificial Intelligence

Moore, W. R. (Hrsg.): VLSI for Neural Networks and

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 188.00
Cover-Bild zu Svoboda, Jiri: Hunters between East and West

Svoboda, Jiri: Hunters between East and West

Kartonierter Einband (Kt) | 2013
CHF 134.00
Cover-Bild zu Hawkins, Charles F. (Hrsg.): IDDQ Testing of VLSI Circuits

Hawkins, Charles F. (Hrsg.): IDDQ Testing of VLSI

Kartonierter Einband (Kt) | 2012
CHF 134.00
«12...111213141516171819...23»
Kategorien
Unternehmen
Mein Konto
Service & Informationen
Folge uns
Zahlungsmöglichkeiten
Copyright © 2024 Krebser Thun. Alle Rechte vorbehalten.
Powered by iShop by think software
Filters
Sort
display